Kjøp bok
Selg boken i stedet
Semiconductor Material and Device Characterization
- Av
- Dieter K. Schroder
- Forlag
- John Wiley and Sons Ltd
- ISBN
- 9780471739067
- Utgitt
- 2006, Innbundet
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.