Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry

Av
David B. Williams, C. Barry Carter
Forlag
Springer International Publishing AG
ISBN
9783319799889
Utgitt
2018, Myk perm

Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.

Kjøp ny

Kjøp brukt på iBok

Bokvarsling

Opprett bokvarsling

Dersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.