Quality Aspects in Spatial Data Mining

Av
Alfred Stein, John Shi, Wietske Bijker, Whenzhong Shi
Forlag
Taylor & Francis Inc
ISBN
9781420069266
Utgitt
2008, Innbundet

Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.

Kjøp ny

Kjøp brukt på iBok

Bokvarsling

Opprett bokvarsling

Dersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.